Vernetzte Mikroskopie Entscheidungen beschleunigen.

Industrial Microscopy Series

Entwicklung, Produktion und Qualitätssicherung erfordern leistungsstarke Bildgebungs- und Analysewerkzeuge, um wertvolle Daten über Produkte und Prozesse zu sammeln. Mit über 170 Jahren Erfahrung in der Mikroskopie und langjähriger Zusammenarbeit mit Industriekunden bietet ZEISS innovative, marktführende Lösungen.

Stereo und Zoom Mikroskope

Konfokale Mikroskope

Elektronenmikroskope

Röntgenmikroskope

For the 1st time ever, real-time all-in-focus visualization

ZEISS Visioner 1

Traditional inspections systems offer shallow depth of field, this means that parts of the sample may not be in focus, which can lead to missing features, user fatigue, and incomplete inspection.

ZEISS Visioner 1 revolutionizes the world of optical inspection and documentation. Driven by the unique Micro-mirror Array Lens System (MALSTM) technology, enables for the first time real-time all-in-focus imaging – first time, every time.

Von Bildanalyse zu Produktivität

Datenverarbeitung ohne Schranken

Durch Industrielle Mikroskopie unterstützt ZEISS seine Kunden dabei, Mikroskopiedaten in Mehrbenutzerumgebungen, abteilungsübergreifend  und über verschiedene Mikroskopiesysteme hinweg konsistent zu erzeugen, zu verwalten und zu nutzen.

Dies ermöglicht einen benutzerunabhängigen Betrieb, Trendanalysen und tiefere Einblicke durch die Kombination von Ergebnissen über Größendimensionen oder Modalitäten und die gemeinsame Nutzung von Daten. Das Ergebnis: Mehr Produktivität und höhere Sicherheit bei industriellen Mikroskopieanwendungen.

  • Gut-/schlecht-Bewertung bei visueller Inspektion
  • Mängel und Fehler sowie ihre Ursachen identifizieren
  • Rauheit und Topographie charakterisieren
  • Partikelkontamination nachverfolgen
  • Abweichungen bei kritischen geometrischen Abmessungen erkennen

Intelligente Datenverarbeitung

für eine vernetzte Mikroskopie

Die einheitliche Benutzeroberfläche von ZEN core ermöglicht es Anwendern, Mikroskope auf die stets gleiche Weise zu bedienen, von Stereomikroskopen bis hin zu vollautomatisierten High-End-Anwendungen. Die leistungsstarke Software-Suite ermöglicht die Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie in multimodalen Arbeitsabläufen und bietet Konnektivität zwischen Systemen, Abteilungen und Standorten. ZEN core beherrscht mehr als nur die Bildgebung in der Mikroskopie. Es ist die umfassendste Suite von Bildgebungs-, Segmentierungs-, Analyse- und Datenverbindungswerkzeugen für die multimodale Mikroskopie in vernetzten Qualitätslaboren.

Workfloworientiert

ZEN core ermöglicht eine workfloworientierte Qualitätssicherung für Mikroskopieanwendungen durch spezialisierte Softwaremodule für Anwendungsbereiche wie technische Sauberkeitsanalyse und Job-Templates zur automatisierten Bildquantifizierung.

Mobiler Zugriff

ZEN Data Explorer ermöglicht den Zugriff auf alle Daten auf dem zentralen ZEN Data Storage Server von jedem Ort aus über ein mobiles Gerät oder einen Browser.

Zuverlässige Datenspeicherung

Die zentrale Datenbank für sichere Daten Handhabung und Dokumentation bietet eine skalierbare zentrale Speicherlösung für Ergebnisse, Methoden und Vorlagen.

Korrelation und Konnektivität

Durch seine korrelative Datenausgabe ermöglicht ZEN core eine schnelle und einfache Wiederfindung von Areas of Interest über verschiedene Abbildungsmethoden und Mikroskoptechnologien hinweg.

Drittanbieter-Import

Benutzer können Bilder von Drittanbietern einbinden und verarbeiten, sogar von Mikroskopen anderer Hersteller.

Anwendungsbereiche für industrielle Mikroskopiesysteme

Workflow-orientierte Lösungen für eine effiziente Qualitätsanalyse

ZEISS bietet das breiteste Spektrum an Lösungen für industrielle Anwendungen in verschiedenen Industriesegmenten: Elektronik, Automobil, Luft- und Raumfahrt, medizinische Geräte und additive Fertigung. Wählen Sie uns als Partner, um Ihre spezifischen technologischen Probleme zu lösen, Ihre Prozesse voranzubringen und schneller Ergebnisse zu erhalten, indem Sie unser umfassendes Mikroskopieportfolio und zielorientierten Softwarelösungen nutzen. Erzielen Sie qualitativ hochwertige Bildgebung mit unseren einzigartigen Mikroskopielösungen unter Verwendung von Licht-, Röntgen- und Elektronenbildgebungsverfahren.

Fehleranalyse und Metallography

Die Defektursachen bestimmen

Herausforderung

Die Metallographie offenbart die innere Struktur von Werkstoffen. Falls etwas nicht wie geplant verläuft, ist eine Fehleranalyse erforderlich, um das Versagen zu inspizieren, analysieren und zu dokumentieren.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Schnellere Ergebnisse durch workflow-orientierte Software und Korrelation der Ergebnisse.

Visuelle Inspektion

Schnell und reproduzierbar

Herausforderung

Die optische Inspektion bietet Herstellern die Möglichkeit, Fehler zu erkennen und zu stoppen, sobald sie auftreten.

Ihr Vorteil mit ZEISS

ZEISS bietet für jede Inspektionsanwendung die richtige Lösung: Lichtmikroskope, Rasterelektronenmikroskope und Röntgenmikroskope.

Optisches Messen

Präzise Messtechnik auf Mikroskopebene

Herausforderung

Mit fortschreitender Produktionstechnologie sind Fertigungswerkzeuge in der Lage, Merkmale mit engen Toleranzen auf Werkstücken zu erzeugen. Um die Qualität dieser Produkte und Komponenten zu gewährleisten, müssen die Hersteller in immer kleineren Größenordnungen messen.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Die konkurrenzlose Erfahrung von ZEISS in der Mikroskopie gepaart mit dem umfangreichen Know-how in der Messtechnik ermöglicht akkurate Ergebnissemit einem breiten Spektrum an Mikroskoptypen.

Oberflächencharakterisierung

3D-Topographie und Rauheit

Herausforderung

Fertige und funktionale Oberflächen mit komplexer Geometrie müssen mit höchster Präzision auf Rauheit und dreidimensionale Topographie untersucht werden.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Durch das umfassende Portfolio, das über Mikroskope hinausgeht, kann ZEISS neben klassenführenden Mikroskopielösungen auch taktile Optionen anbieten.

Partikelanalyse

Zuverlässige Qualitätssicherung für Technische Sauberkeit

Herausforderung

Die Sauberkeit von Komponenten steht im Mittelpunkt der meisten industriellen Fertigungsprozesse, da diese frei von Verunreinigungen sein müssen, um qualitativ hochwertige Endprodukte zu gewährleisten.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Mit ZEISS können Sie fundierte Entscheidungen über die Ursache der Kontamination treffen.

Vom Mikrometer bis zum Nanometer

ZEISS bietet ein einzigartig umfassendes Portfolio aller für industrielle Anwendungen relevanten Mikroskoptypen. Zusammen mit den korrelierbaren Daten über die verschiedenen Mikroskoptechnologien und der workfloworientierten ZEN core Software ergibt sich für den Kunden ein vollständiges und schlüssiges Lösungssystem, das nur ZEISS bieten kann.

Licht/Konfokal

Röntgentomographie

Licht/Konfokal

Rasterelektronen

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