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ZEISS Sigma
Field Emission Scanning Electron Microscope
Sigma-Produktfamilie
Ihre FE-SEMs für Imaging mit hohem Qualitätsanspruch und erweiterter Analytik
Sigma 300 bietet ein ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis. Führen Sie Ihre Elementaranalyse schnell und komfortabel mit der klassenbesten EDS-Geometrie des Sigma 500 durch. Stützen Sie sich auf präzise, reproduzierbare Resultate – von jeder Probe, jederzeit.
Flexible Detektion. 4-Schritte-Workflow. Erweiterte Analysen.
Kombinieren Sie Feldemissions-SEM (FE-SEM)-Technologie mit erweiterten Analysen. Profitieren Sie von der bewährten Gemini-Elektronenoptik. Wählen Sie aus einer Vielzahl von Detektoroptionen: Bilden Sie Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen ab. Untersuchen Sie Mikroelektronik-Bauteile und Medizinische Geräte und geologische oder biologische Proben. Sparen Sie Zeit mit dem halbautomatischen 4-Schritte-Workflow von Sigma: Strukturieren Sie Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen und steigern Sie die Produktivität. FE-SEM Nutzer aller Disziplinen in Forschung und Industrie-Laboren profitieren jetzt von einer Auflösung von 1,3 nm bei 1 kV mit ZEISS Sigma 500 und einer insgesamt verbesserten Benutzerfreundlichkeit.
Highlights


Gewinnen Sie Informationen über Topographie und Komposition mittels nur eines einzigen Detektors. Solarzelle, aufgenommen mit aBSD bei 5 kV im Hochvakuum.
Flexible Detektion für kristallklare Bilder
- Passen Sie das Sigma mithilfe der neuesten Detektionstechnologie perfekt Ihren Bedürfnissen an, um alle vorliegenden Proben zu charakterisieren.
- Charakterisieren Sie Komposition, Kristallographie und Oberflächentopographie mit dem ringförmigen Rückstreudetektor (aBSD, englisch: annular, ringförmig). Er liefert exzellente Niederspannungsbilder unter allen Vakuumbedingungen. Profitieren Sie von verbesserter Sensitivität, erhöhtem Signal-Rausch-Verhältnis und mehr Geschwindigkeit.
- Nutzen Sie die Vorteile einer neuen Generation von Sekundärelektronen (SE)-Detektoren. Profitieren Sie im druckvariablen Modus von Sigmas C2D- und VPSE-Detektoren. Erstellen Sie im Niedervakuum gestochen scharfe Bilder mit bis zu 85% mehr Kontrast.

Automatisieren und beschleunigen Sie Ihren Workflow
- Ein 4-Schritte-Workflow gibt Ihnen Kontrolle über die Funktionalität des Sigma. Freuen Sie sich über schnelle Ergebnisse und sparen Sie Zeit bei der Schulung, insbesondere in einem Umfeld mit mehreren Benutzern.
- Zuerst navigieren Sie durch Ihre Probe und legen dann die optimalen Bildgebungsbedingungen fest.
- Dann nehmen Sie automatisch in den Regions of Interest (ROI) mehrerer Proben Bilder auf. Den letzten Schritt des Workflows nutzen Sie zur kontextbezogenen Darstellung Ihrer Resultate.
- Zuletzt stellt SmartSEM Touch Ihre Daten gebündelt, in Form einer interaktiven Karte, dar mit deren Hilfe Sie eine komplettes Bild Ihrer Proben erhalten.

Setzen Sie moderne analytische Mikroskopie ein
- Kombinieren Sie Rasterelektronenmikroskopie und Elementaranalyse: Sigmas klassenbeste EDS-Geometrie steigert Ihre analytische Produktivität, insbesondere bei strahlenempfindlichen Proben.
- Erhalten Sie analytische Daten mit halbem Probenstrom und doppelter Geschwindigkeit.
- Erzielen Sie mit Ihrem FE-REM vollständige, schattenfreie Analysen. Profitieren Sie von einem kurzen analytischen Arbeitsabstand von nur 8,5 mm und einem Austrittswinkel von 35°.
Technologie

Gemini-Optik - Auf Grundlage der bewährten Gemini-Technologie
- Das Gemini-Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Dies ermöglicht eine ausgezeichnete Abbildung auch bei schwierigen Proben wie beispielsweise magnetischen Materialien.
- Das Gemini Konzept der Inlens-Detektion gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch Erfassung von Sekundärelektronen (SE) bzw. Rückstreuelektronen (BSE), und minimiert die Bilderfassungszeit.
- Die Gemini Beambooster-Technologie ermöglicht geringe Sondengrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.

Flexible Detektion für kristallklare Bilder
- Charakterisieren Sie all Ihre Proben mit der neuesten Detektionstechnologie.
- Sichern Sie sich mit dem ETSE und dem Inlens-Detektor für den Hochvakuummodus topographische Informationen in hoher Auflösung.
- Erhalten Sie im druckvariablen Modus mit dem VPSE oder C2D-Detektor gestochen scharfe Bilder.
- Produzieren Sie mit dem aSTEM-Detektor hochauflösende Transmissionsbilder.
- Untersuchen Sie mit dem aBSD die Zusammensetzung und die Oberflächstruktur Ihrer Proben.
- Justieren Sie Blende schnell und einfach mit der neuen Auto-wobble Funktion.
Anwendungen
Materialwissenschaften






Life Sciences




Geowissenschaften & Rohstoffe




Mikroskopielösungen für Industrie



Zubehör
SmartEDX
Entdecken Sie die Integrierte EDS-Lösung für Mikroanalyse im SEM

- Optimierter Routine-Mikroanalyse und Detektion von niederenergetischen Röntgenstrahlen, die von leichten Elementen stammen, dank der überlegenen Durchlässigkeit des Silizium-Nitrid-Fensters
- Einfach zu bedienenden Workflows, spezialisiert auf ein Umfeld mit vielen Nutzern, ermöglicht das Erstellen reproduzierbarer Analyseergebnisse
- Umfassendem Support aus einer Hand, von der Installation über vorbeugende Wartung, Garantie, Diagnose, Reparatur und Ersatzteillieferung, bis hin zu integrierten Service-Verträgen.
Sigma RISE
Nutzen Sie die Vorteile von integrierter Raman-Bildgebung

- Profitieren Sie vom Zugang zu molekularer und kristallographischer Information.
- Führen Sie 3D-Analysen durch und korrelieren Sie die SEM-Bildgebung mit Raman-Mapping und EDS-Daten.
- Die vollständige Integration der beiden Techniken, SEM und Raman, macht die Durchführung von korrelativen Analysen schnell und einfach.

Verbinden Sie Materialeigenschaften und Mikrostruktur mit dem in situ Lab für ZEISS FE-SEMs
Profitieren Sie von einer integrierten Lösung
Wenn Sie die Werkstoffeigenschaften mit der Mikrostruktur in Zusammenhang bringen müssen, stellt Ihnen ZEISS ein automatisiertes in situ Heiz- und Spannungsversuchslabor zur Verfügung. Beobachten Sie Materialien unter Wärme und Spannung und zeichnen Sie Spannungs-Dehnungs-Kurven automatisch auf. Erweitern Sie Ihr ZEISS FE-SEM mit einer in situ Lösung für Temperatur- und Zugversuche. Untersuchen Sie Materialien wie Metalle, Legierungen, Polymere, Kunststoffe, Verbundwerkstoffe und Keramiken.
Kombinieren Sie einen mechanischen Zug- oder Drucktisch, eine Heizeinheit, spezielle Hochtemperatur-SE- und BSE-Detektoren mit EDS- oder EBSD-Analysen (Elektronenrückstreubeugung). Dank des Designs der ZEISS Gemini-Elektronenoptiken ist die Integration der in situ Hardware sehr einfach. Steuern Sie alle Systemkomponenten von einem einzigen PC aus mit einer einheitlichen Softwareumgebung, die unbeaufsichtigte automatisierte Materialprüfungen ermöglicht. Die automatische Merkmalsverfolgung bietet Ihnen einen neuen Standard für die automatische Serienbildgebung und -analyse, wie z. B. EDS- oder EBSD-Mapping, während mehrere Regions of Interest überwacht werden..
Nutzen Sie diese Vorteile
- Einfaches und schnelles Einrichten von Experimenten, ohne dass das System während der Erfassung überwacht werden muss
- Automatisierte in situ Workflows für eine hochgradig reproduzierbare, präzise und zuverlässige, bedienerunabhängige Datenerfassung
- Datenerfassung mit hohem Durchsatz und hoher Auflösung. Dies führt schnell zu statistisch repräsentativen Ergebnissen
- Qualitativ hochwertige Daten für eine zuverlässige Nachbearbeitung, z. B. Dehnungskartierung mit Digital Image Correlation (DIC), unterstützt durch GOM
- Einfache Datenverwaltung

Software

ZEISS SmartSEM Touch – Zugeschnitten auf Multi-User-Umgebungen
SmartSEM Touch, ein Add-on zum etablierten Betriebssystem, ist eine vereinfachte Benutzeroberfläche für Multi-User Umgebungen. Es bietet einfache Bedienung für erfahrene und unerfahrene Benutzer. Je nach Laborumgebung kann die Bedienung des SEM die alleinige Aufgabe erfahrener Elektronenmikroskopiker sein. Es kann aber auch die Notwendigkeit bestehen, dass unerfahrene Nutzer wie Studenten, Auszubildende oder Qualitätsingenieure Daten von einem SEM benötigen. Sigma 300 und Sigma 300 VP berücksichtigen beide Gruppen mit Benutzeroberflächen, die auf die Nutzeranforderungen von erfahrenen Mikroskopikern und Neulingen gleichermaßen eingehen.

ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung
Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ein leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (SEM) ergänzt.

3DSM
Nutzen Sie Ihr SEM zur Rekonstruktion Ihrer Probenoberflächen
Ihr Rasterelektronenmikroskop misst und analysiert alle Arten von Proben in 2D: Zur Analyse Ihrer Probenoberfläche in 3D verwenden Sie 3DSM, das optionale Softwarepaket von ZEISS. Erhalten Sie topographische Informationen, indem Sie ein komplettes 3D-Modell Ihrer Probe rekonstruieren und dazu die Signale des aBSD oder des AsB-Detektors verwenden.

Visualisierungs- und Analyse-Software
ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)
Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-SEM, SEM und Helium-Ionen-Mikroskopie.
Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt Anpassungen mittels einfachem Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.
Downloads
3D Imaging Systems
Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.
Seiten: 68
Dateigröße: 5952 kB
ZEISS Sense BSD
Backscatter Electron Detector for Fast and Gentle Ultrastructural Imaging
Seiten: 6
Dateigröße: 6808 kB
ZEISS Sigma 300 with RISE
Extend your ZEISS Sigma 300 with Fully Integrated Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE)
Seiten: 2
Dateigröße: 2075 kB
ZEISS Sigma Family
Your Field Emission SEMs for High Quality Imaging and Advanced Analytical Microscopy
Seiten: 37
Dateigröße: 11041 kB
ZEISS SmartEDX
Die EDS-Lösung von ZEISS für Ihre Routineanwendungen bei der SEM-Mikroanalyse
Seiten: 10
Dateigröße: 10153 kB
In Situ Lab for ZEISS FE-SEM
Seiten: 5
Dateigröße: 4278 kB
ZEISS Sigma Family - Flyer
Your FE-SEMs for High Quality Imaging & Advanced Analytical Microscopy
Seiten: 2
Dateigröße: 2146 kB
Large Volume Imaging of Eye Muscle by SIGMA VP and 3View
Serial Block Face Imaging
Seiten: 8
Dateigröße: 1983 kB
ZEISS Sigma 300 with WITec Confocal Raman Imaging
Characterizing Structural and Electronic Properties of 2D Materials Using RISE Correlative Microscopy
Seiten: 10
Dateigröße: 6581 kB
Voltage Contrast in Microelectronic Engineering
Seiten: 6
Dateigröße: 1748 kB
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