ZEISS ZEN Connect

Das Softwaremodul zum Verbinden multimodaler Daten im Materialforschungslabor

Erweitern Sie die korrelative Mikroskopie und nutzen Sie smartes Datenmanagement

ZEISS ZEN Connect ermöglicht das Überlagern und Organisieren von Bildern aus jeder beliebigen Quelle: Kombinieren Sie mehrere Perspektiven Ihrer Probe über verschiedene Skalierungsstufen und Imaging-Verfahren hinweg. Mit ZEISS ZEN Connect können Sie jetzt alle Ihre Imaging-Technologien – von ZEISS oder Drittanbietern –zusammenführen, um wissenschaftliche Fragen schneller, genauer und umfassender zu beantworten.


  • Nehmen Sie ein Übersichtsbild auf
  • Wechseln Sie zu Ihrem Licht-, Konfokal- oder Elektronenmikroskop und richten Sie es einmal aus
  • Nutzen Sie das Übersichtsbild für Ihre Navigation
  • Oder arbeiten Sie einfach mit ZEN Connect und richten Sie Bilder beliebiger Quellen aus und führen Sie eine Überlagerung durch
  • Sichern Sie Ihre multimodalen Daten in gut organisierten Projektdatenbanken   

ZEN Connect zeigt Ihre Daten immer im Kontext.

Sie erhalten einzigartige Einblicke, erhöhen die Effizienz und sparen Zeit. Das gilt für die Materialforschung an Universitäten ebenso wie für Einrichtungen mit mehreren Benutzern oder Labore in der Industrie.

Um die Eigenschaften einer Probe umfassend charakterisieren zu können, müssen nicht selten mehrere Mikroskopie- oder Kontrastverfahren
kombiniert werden.

Unabhängig davon, ob Sie Batterien für die E-Mobilität untersuchen oder mit additiv hergestellten Bauteilen experimentieren. Oder ob Sie an Rohmaterialien wie Erdöl interessiert sind. Oder Sie beurteilen, ob gewisse Einschlüsse in einer Materialprobe metallisch sind. In diesen und vielen anderen Fällen reicht ein einzelnes Kontrast- oder Mikroskopieverfahren nicht immer aus, um alle Ihre Fragen zu beantworten.

Nutzen Sie den Vorteil, mehr als nur ein Mikroskopieverfahren zur Verfügung zu haben.
 

Highlights

Produktspektrum für ZEN Connect für Materialien

Profitieren Sie von einfacher Überlagerung und Ausrichtung aller Bilder

  • Laden Sie komplexe multidimensionale Bilder oder einfache Übersichtsbilder aus Ihrem Smartphone
  • Dabei spielt es keine Rolle, ob Ihre Imaging-Technologie von ZEISS oder einem Drittanbieter kommt
  • Sämtliche Bilddaten können ausgerichtet und im Kontext angezeigt werden
  • Solange Ihre externen Bilder dem etablierten Bio-Formats-Standardentsprechen, speichert ZEN Connect auch deren Metadaten
ZEN Connect für Materialien - einfache Navigation

Erfassen Sie Übersichtsbilder für eine komfortable Navigation

  • Legen Sie Ihre Probe auf einen Probenhalter von ZEISS bzw. den eines Drittanbieters
  • Nehmen Sie die Probe mit einem Stereomikroskop von ZEISS oder einem beliebigen anderen System mit geringer Auflösung auf
  • Verwenden Sie das Übersichtsbild zur Navigation und zum Auffinden Ihrer ROIs
  • Alle nachfolgend aufgenommenen Bilder werden in dem gemeinsamen Kontext gezeigt, auch wenn Sie über Auflösungsgrenzen und Bildgebungstechnologien hinweg ein und auszoomen
  • Ein einfacher Klick auf das Übersichtsbild genügt, und der Probentisch fährt an die richtige Position. Jetzt können Sie Ihre ROIs untersuchen oder neu bewerten
ZEN Connect für Materialien - intelligentes Datenmanagement

Smart Datenmanagement

  • Alle Bilder werden automatisch mit einer intuitiv verständlichen Kennzeichnung versehen und in Projektdatenbanken gespeichert
  • So behalten Sie immer den Überblick – während der Experimente und Monate später
  • Alle Ihre Bilder und die damit verknüpften Datensätze können auf diese Weise leicht wiedergefunden werden
  • Mit Hilfe der Filtersuchfunktion können Sie gezielt z.B. nach dem Mikroskoptyp und einzelnen Imaging-Parametern suchen

Anwendungen

Materialforschung in der Elektromobilität

Die Zukunft der Elektromobilität hängt vom Verständnis der Dauermagneten ab – ZEN Connect hilft Ihnen dabei: Beginnen Sie mit der Aufnahme eines Übersichtsbilds. Die magnetischen Bereiche lassen sich mit der Kerr-Mikroskopie darstellen. Jetzt können Sie  vielversprechende magnetische Phasen identifizieren. Um Details sichtbar zu machen, kann die Auflösung von dem Mikro- in den Nanometerbereich erhöht werden. Anschließend können Sie Rückschlüsse auf den Zusammenhang zwischen Probenmorphologie und Magnetparametern ziehen. Analysieren Sie Ihre Daten in einem breiter gefassten Kontext, denn ZEN Connect ermöglicht schon während der Untersuchung die Verknüpfung von Bildern mit großem Sehfeld in bestmöglicher Auflösung.

Großer Übersichtsbereich, aufgenommen mit ZEISS Axio Imager
Struktur magnetischer Bereiche optisch dargestellt durch Kerr-Mikroskopie
Korreliertes, hochauflösendes Bild, aufgenommen mit ZEISS Sigma 300 VP

Großflächige Übersicht, aufgenommen mit ZEISS Axio Imager (oben). Struktur magnetischer Bereiche optisch dargestellt durch Kerr-Mikroskopie (oben rechts) sowie korreliertes, hochauflösendes Bild, aufgenommen mit ZEISS Sigma 300 VP (unten rechts). Mit freundlicher Genehmigung von T. Schubert, Universität Aalen, Deutschland.

Materialforschung zu Einschlüssen in kalziumbehandeltem Stahl

Eine Kalziumbehandlung verhindert die Bildung schädlicher Mangansulfid-Einschlüsse in Stahl. Diese Einschlüsse können sich beim Walzen von Stahl dehnen und zu einer Anisotropie des Stahls führen. Wenn Sie Mangansulfid-Einschlüsse modifizieren, um wesentlich härtere Kalziumsulfid-Einschlüsse zu bilden, bleiben diese kugelförmig und helfen dabei, die Isotropie des Stahls zu bewahren. Für die Untersuchung fügen Sie Bilder zu einem großformatigen Übersichtsbild der gesamten Probe zusammen. Ansammlungen von Einschlüssen lassen sich auf diese Weise schnell identifizieren und überprüfen. Anschließend können Sie von der Übersicht zur Detailansicht wechseln. Oder, für hochaufgelöste Bilder, zu einem SEM. Danach können Sie die Region of Interest wieder anfahren, um bestimmte Einschlüsse für EDX-Analysen auszuwählen.

Probenübersicht und Detail eines Einschlusses (Einsatz), aufgenommen mit ZEISS Axio Observer
SEM-Bild mit stärkerer Vergrößerung (ZEISS Crossbeam 550) und EDX-Elementverteilungsbild eines verlängerten Mangansulfid-Einschlusses
Zweite Probe mit Kalziumbehandlung: SEM-Bild eines kugelförmigen Kalziumsulfideinschlusses und EDX-Elementverteilungsbilder

Erste Probe, ohne Kalziumbehandlung: Probenübersicht und Detail eines Einschlusses (Einsatz), aufgenommen mit ZEISS Axio Observer (links); SEM-Bild mit stärkerer Vergrößerung (ZEISS Crossbeam 550) und EDX-Elementverteilungsbild eines verlängerten Mangansulfid-Einschlusses (Mitte). Zweite Probe mit Kalziumbehandlung: SEM-Bild eines kugelförmigen Kalziumsulfideinschlusses und EDX-Elementverteilungsbilder (rechts). Mit freundlicher Genehmigung von J. Russel, Swansea University, GB.

Materialforschung in den Bereichen Erdölgewinnung, Entsorgung nuklearer Abfälle und Kohlenstoff- Abscheidung und -Speicherung

Mit ZEN Connect gewinnen Sie ein tiefgehendes Verständnis der Porenstruktur von Carbonatgestein. Auch die Charakterisierung von Fluss, Reaktion und Transport über einen weiten Bereich von Längenskalen und eine starke strukturelle Heterogenität hinweg ist möglich. Sie erhalten Zugriff auf wichtige Informationen bei der Erdölgewinnung, Kohlenstoff-Abscheidung und -Speicherung und der Entsorgung nuklearer Abfälle. Durch die automatisierte Lichtmikroskopie lassen sich auch große Bereiche abbilden. Zur vollständigen Klassifizierung kann das Bild danach in ZEISS ZEN Intellesis importiert werden. Dann können Sie Farbe, Textur und Intensität variieren, um Makroporen, Festgesteinkörner und mikroporöse Körner zu identifizieren. Verwenden Sie diese Daten, um Interessensbereiche für die hochauflösende Feldemission-Rasterelektronenmikroskopie auszuwählen. Variationen in der lokalen Porenstruktur im Nanometerbereich werden sichtbar und können im Kontext der makroskopischen Heterogenität betrachtet werden.

Die Überlagerung der makroskopischen Segmentierung (links) und des Bildes aus der automatisierten Lichtmikroskopie (rechts) zeigen die Makroporosität und mikroporöse Körner.
Die Überlagerung der makroskopischen Segmentierung (links) und des Bildes aus der automatisierten Lichtmikroskopie (rechts) zeigen die Makroporosität und mikroporöse Körner.
Korrelative Überlagerung der hochauflösenden Lichtmikroskopiedaten und Elektronenmikroskopiedaten im Nanometerbereich.
Korrelative Überlagerung der hochauflösenden Lichtmikroskopiedaten und Elektronenmikroskopiedaten im Nanometerbereich.
Überlagerung der segmentierten (links) hochauflösenden Lichtmikroskopiedaten (rechts), die die Porenstruktur in größerem Detail anzeigen.
Überlagerung der segmentierten (links) hochauflösenden Lichtmikroskopiedaten (rechts), die die Porenstruktur in größerem Detail anzeigen.
Hochauflösende Elektronenmikroskopiedaten im Nanometerbereich.
Hochauflösende Elektronenmikroskopiedaten im Nanometerbereich.

Zubehör

ZEISS ZEN Data Storage – Zentrales Datenmanagement im vernetzten Labor

ZEISS ZEN Data Storage

Zentrales Datenmanagement im vernetzten Labor

Mit der Digitalisierung verbessert sich die mikroskopische Forschung immer weiter. Doch damit geht auch eine ständig wachsende Masse von Bildern und Daten einher, die verwaltet werden muss. Das gilt umso mehr in Laboren mit mehreren Benutzern. Mit ZEISS ZEN Data Storage können Sie Bild- und Datenerfassung von der Nachbearbeitung trennen, wodurch jeder im Labor effizienter arbeiten kann. Auch Ihre Mitarbeiter profitieren vom Zugriff auf Daten und die Freigabefunktionen.

Korrelative Mikroskopie mit ZEISS Shuttle & Find

Korrelative Mikroskopie mit ZEISS Shuttle & Find

Mit dem Softwaremodul ZEISS Shuttle & Find profitieren Sie von einem anwenderfreundlichen, produktiven Workflow zur Überlagerung von Daten aus Ihrem Licht- und Rasterelektronenmikroskop. So lässt sich durch das Verwenden eines Probenhalters mit Referenzpunkten in Sekundenschnelle ein Koordinatensystem erstellen. Anschließend werden mit dem Lichtmikroskop die gewünschten Bereiche in Ihrer Probe definiert. Wenn Sie jetzt diese Bereiche in das Elektronenmikroskop verlegen, erhalten Sie Zugang zu hochauflösendem Imaging und Analytik. Zum Schluss korrelieren Sie die Bilder, die mithilfe unterschiedlicher Mikroskopietechniken aufgenommen wurden.

Erfahren Sie mehr über die korrelative Mikroskopie mit ZEISS Shuttle & Find

ZEISS ZEN Intellesis für die Bildsegmentierung in der Mikroskopie

ZEISS ZEN Intellesis für die Bildsegmentierung in der Mikroskopie

Erschließen Sie sich die Vorteile von Deep Learning, um Ihre Bilder einfach zu segmentieren und Zugang zu ihrem tatsächlichen Wert zu erhalten – den Daten, die sie liefern. Die Bildsegmentierung bildet die Grundlage für alle nachfolgenden Schritte der Bildanalyse. ZEISS ZEN Intellesis nutzt dafür Deep Learning und Python und ermöglicht so auf einfache Weise reproduzierbare Segmentierungsergebnisse. Auch für Benutzer mit weniger Erfahrung. Einmal trainiert kann ZEISS ZEN Intellesis anschlie- ßend Stapel mit Hunderten von Bildern automatisch segmentieren. Das spart Zeit und reduziert benutzerbedingte Abweichungen im Ergebnis.

Erfahren Sie mehr über ZEISS ZEN Intellesis für die Bildsegmentierung in der Mikroskopie

Download

ZEISS ZEN Connect

Overlay and Organize Images From Any Source to Connect Your Multimodal Data in Materials Research

15 Pages
Filesize: 5,863 kB

ZEISS ZEN Connect (Italian Version)

Sovrapposizione e organizzazione di immagini provenienti da fonti diverse per connettere i vostri dati multimodali all'analisi dei materiali

15 Pages
Filesize: 3,234 kB

ZEISS ZEN Connect

Overlay and Organize Images From Any Source to Connect Your Multimodal Data in Materials Research

2 Pages
Filesize: 2,828 kB

ZEISS ZEN Data Storage for Materials Science

Database for Your Efficiency in the Multi User Laboratory

2 Pages
Filesize: 2,255 kB

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Software ZEISS ZEN Connect

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