Ihre automatisierte REM-Lösung für die Partikelanalyse und -klassifizierung
Der Smart Particle Investigator (SmartPI), Ihre moderne Lösung für die Partikelanalyse und -klassifizierung, verwandelt ein Rasterelektronenmikroskop in eine sofort einsatzbereite Lösung für die technische Sauberkeit oder für Metall- und Stahlanwendungen. SmartPI umfasst alle Aspekte der REM-Steuerung, Bildverarbeitung und Elementaranalyse (EDS) in einer einzigen Anwendung.
SmartPI wurde in enger Zusammenarbeit mit einem globalen Zulieferer von Automobilteilen entwickelt, der einen konkreten Bedarf an einem leistungsfähigen und gleichzeitig benutzerfreundlichen System für die Partikelidentifizierung und -klassifizierung hatte. Dabei wurden nicht nur die aktuellen Anforderungen an technische Sauberkeitsanalysen berücksichtigt, sondern auch Aspekte der Nutzerfreundlichkeit für typische industrielle Umgebungen. Schließlich kommt es vor, dass nicht jeder Bediener ein Mikroskopieexperte ist und Lösungen häufig an mehreren Standorten auf dem Globus bereitgestellt werden.
Die SmartPI-Automatisierung vereinfacht den Betrieb, deshalb müssen Sie kein Mikroskopieexperte sein, um aussagekräftige Daten zu erhalten. Gleichzeitig können erfahrene Bediener einfach Vorlagen erstellen oder modifizieren und Analyseroutinen an spezifische Anforderungen anpassen. Sämtliche Vorlagen, Systemkonfigurationen und Partikeldaten werden in einer prüffähigen Datenbank gespeichert, die ein einfaches Prüfen und Exportieren von Daten erlaubt.
Mithilfe eines ausgeklügelten Algorithmus für das Stitching von am Rand liegenden Partikeln erkennt, charakterisiert und klassifiziert SmartPI auch Partikel, die über mehrere Sehfelder verteilt sind. Dazu gehören etwa abgeschnittene Partikel in einem Partikeldatensatz. Dies ist insbesondere dann wichtig, wenn größere Partikel in der Statistik berücksichtigt werden sollen. Andernfalls würden Analysen der technischen Sauberkeit oder der Qualität von Stahl nachteilig beeinflusst.
Steuern Sie REM-Imaging und EDS-Analysen mit einem Softwareprogramm auf einem PC. ZEISS SmartPI behält alle Daten an einem Ort und sorgt so für die Integrität von REM- und EDS-Daten und eine effiziente Datenabfrage. Auch wenn das EDS-System von einem anderen Anbieter stammt, wird das gesamte SmartPI-System vom globalen ZEISS Service- und Anwendungsteam unterstützt – so erhalten Sie Kundenservice aus einer Hand.
SmartPI führt vor jedem automatischen Durchlauf und regelmäßig während des Durchlaufs Selbstdiagnose- und -kalibrierungsroutinen durch. Dadurch werden die Systemstabilität und genaue, wiederholbare Ergebnisse sichergestellt. Sollte ein automatischer Durchlauf einmal unterbrochen werden, beispielsweise weil eine Kathode ausgetauscht werden muss, wird ein automatischer Wiederherstellungsprozess initiiert.
SmartPI nutzt fortschrittliche Bildverarbeitungs- und Analysetechniken, um verschiedene morphologische Merkmale für jeden erkannten Partikel zu messen. Anschließend werden EDS-Analysen zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung jedes Partikels ausgeführt. Analysieren Sie Partikel rasch im Spot-Modus oder im Detail mithilfe des erweiterten ZEISS Feature Scan-Modus. Dabei wird die gesamte Partikelform gescannt, um eine genauere Klassifizierung zu erreichen.
SmartPI erlaubt Ihnen, als nicht interessant erachtete Partikel von der nachfolgenden Bild- und Elementaranalyse auszuschließen. Dadurch können Sie Ihren Partikeldatensatz einheitlich halten und Laufzeiten minimieren. Das könnte beispielsweise der Fall sein bei länglichen Fasern auf dem Filter, die vom Staub in der Umgebung stammen könnten und daher keinen Bezug zu Partikeln aus dem Fertigungsprozess haben.
Mithilfe einer Reihe an erweiterten Abbruchkriterien können Analysen im automatischen Durchlauf beendet werden, wenn ein vordefinierter Schwellenwert erreicht wird. Zu den Abbruchkriterien können Analysezeiten, die Anzahl der gezählten Partikel oder Felder, die Partikelgröße, eine bestimmte Klassifizierung oder andere von Ihnen spezifizierte Kriterien zählen. Diese Funktion lässt sich auf einzelne oder mehrere Proben anwenden, wodurch die Laufzeit insgesamt deutlich verkürzt werden kann. Ein Fenster mit Live-Ergebnissen erlaubt dem Bediener, den Fortschritt zu überwachen und zu entscheiden, ob ein Eingriff erforderlich ist.
Verwenden Sie den Prüfmodus, um einzelne Partikel erneut zu untersuchen und alle ihre Eigenschaften einschließlich der EDS-Zusammensetzung und Materialklassifizierung anzuzeigen.
Use the review mode to re-examine single particles and see all of their properties including EDS composition and material classification.
Verwenden Sie den Review-Output-Modus, um Klassifizierungsvorlagen zu verbessern, indem Sie die Ergebnisse sorgfältig auswerten. Sie können auch Partikel erneut untersuchen, indem Sie den Probentisch auf die entsprechenden Partikelkoordinaten zurückstellen.
Mit dem Modus zur retrospektiven Analyse können Sie vorhandene Ergebnisse neu auswerten, indem Sie einfach neue Klassifizierungskriterien verwenden, ohne die Probe erneut zu analysieren.
Mit dieser eigenständigen Anwendung können Sie Ergebnisse durchsuchen oder Resultate für individuelle Spektren, Bilder von Partikeln und Feldern, am Rand liegende Partikel oder andere ausgewählte Filter suchen. Darüber hinaus bietet SmartPI Explorer Archivierungsoptionen und eine Bildmontagefunktion, mit der ein zusammengefügtes Bild der analysierten Felder erstellt werden kann. Der Explorer kann auch offline genutzt werden, damit das System mehr Zeit für Analysen hat.
Diese eigenständige Anwendung verfügt über diverse integrierte Tools, mit denen Sie dedizierte Berichte erstellen können. Sie können Drag&Drop-Elemente nutzen, eine vorhandene Berichtsvorlage ändern oder einen Bericht gemäß ISO oder VDA auswählen. Sobald Sie Ihren Bericht definiert haben, können Sie ihn als Vorlage für weitere Berichte speichern. Verwenden Sie SmartPI Reporter online für die sofortige Berichterstellung oder offline, wenn Sie Ergebnisse zu einem späteren Zeitpunkt analysieren.
EVO ist das REM der Wahl für routinemäßige Materialanalysen oder die industrielle Qualitätssicherung und Fehleranalyse. Mit seinem großen und motorisierten 5-achsigen Tisch und der benutzerfreundlichen SmartSEM-Software bietet EVO eine hochgradig konfigurierbare Imaging-Plattform für Partikelanalyseanwendungen. EVO ist mit dem variablen Druckmodus (VP) erhältlich, der das Imaging und die Analyse von nicht leitenden Proben wie Filtern erlaubt, ohne dass eine leitfähige Beschichtung aufgetragen werden muss. Dadurch bleibt der Filter intakt für weitere Analysen, etwa mit dem Raman- oder FTIR-Spektrometer.
Sigma 300 ist das geeignete REM für Nutzer, die eine verbesserte Auflösung für Partikelanalysen im Nanometerbereich benötigen. Das Sigma, das über eine Säule mit Gemini-Technologie verfügt, liefert die herausragenden Imaging- und Analyseergebnisse, die von einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) erwartet werden dürfen. Die Gemini-Optik bietet Imaging mit höchster Auflösung auf einer Plattform, die sich sehr gut für Elementaranalysen, insbesondere von magnetischen Proben, eignet.
Ihre automatisierte REM-Lösung für die Partikelanalyse und -klassifizierung
Seiten: 19
Dateigröße: 10966 kB
Automated Identification of Asbestos
Seiten: 7
Dateigröße: 11527 kB