Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.
Um alle Details Ihrer Probe erfassen zu können, müssen Sie sie häufig mithilfe mehrerer Methoden analysieren. Wenn Sie vom Mikro- zum Nanobereich wechseln, kann es erforderlich sein, dass Sie ein Lichtmikroskop mit einem Elektronenmikroskop (CLEM) oder ein Röntgenmikroskop mit einem FIB-REM (CXF) korrelieren. Die korrelative Mikroskopie von ZEISS bietet Ihnen integrierte Lösungen und nahtlose Workflows. Entscheiden Sie sich für ZEISS als einzigen Anbieter von Licht-, Elektronen-, Ionen- und Röntgenmikroskopen und profitieren Sie von jahrelanger Erfahrung auf dem Gebiet korrelativer Analysen. Mit der einzigartigen, probenorientierten Korrelation von Bildern und Daten profitieren Sie bei Ihrer Arbeit von mehr als einer Mikroskopietechnik.
Erwerben Sie neue Erkenntnisse durch die Verknüpfung von Informationen über mehrere Dimensionen. Nahtlose Datenhandhabung, vereinfachte Workflows und umfangreichere Einblicke in Ihre Proben.
Ihre Lösung für die TEM-Lamellenpräparation und die volumetrische Bildgebung unter Tieftemperatur-Bedingungen.
Weitere Informationen zu ZEISS Korrelativer Workflow für die Kryomikroskopie
Das Softwaremodul ZEN Correlative Array Tomography erlaubt es Ihnen automatisch Hunderte von Serienschnitten mit verschiedenen Auflösungen abzubilden und in einem einzigen korrelativen Volumendatensatz zusammenfassen.
Weitere Informationen zu ZEISS ZEN Correlative Array Tomography
Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung. Nutzen Sie die effiziente Navigation und Korrelation von Bildern aus jeder Quelle, z.B. aus Licht- oder Röntgenmikroskopie. Profitieren Sie von hohem Durchsatz und automatisierter Bildgebung für große Bildflächen.
Schnelle Partikelanalytik – fassen Sie die Ergebnisse der Analysen mit dem Licht- und Elektronenmikroskop zu einem Bericht zusammen.
Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.
Seiten: 68
Dateigröße: 5952 kB
Korrelativer Röntgenmikroskop-Lichtmikroskop-Workflow zur Charakterisierung prozessbedingter Fehler in additiv gefertigten Materialien
Seiten: 8
Dateigröße: 6672 kB
A Publication Reference List
Seiten: 9
Dateigröße: 702 kB