Schnelle Nano-, chemische und korrelative Partikelanalyse

Lichtmikroskopiebild
Sie überwachen die technische Sauberkeit Ihrer Komponenten und des Produktionsprozesses. Sie sorgen dafür, dass die mechanischen Komponenten reibungslos funktionieren. Sie achten darauf, dass sich keine Risse durch Lecks bilden, dass Düsen und Filter nicht verstopfen und Pumpen sowie Ventile durchgehend funktionieren.
Minimieren Sie Ihre Wartungskosten und maximieren Sie Ihre Standzeit .

Elektronenmikroskopisches Bild
ZEISS SmartPI für vollautomatisierte Nano-Partikelanalyse
Analysieren Sie auf Ihren Filtern mit einem Elektronenmikroskop bis zu 200.000 Partikel und erfahren Sie optional alles, was Sie über die chemische Zusammensetzung des Materials wissen müssen - vollautomatisch mit SmartPI.

Überlagerung des Licht- und Elektronenmikroskopbildes (inkl. EDX-Analyse)
ZEISS Korrelative Partikelanalyse schnelle Messung und Analysierung von bis zu 200 kritischen Partikeln durch Charakterisierung mit Licht- und Elektronenmikroskopie—schnell und äußerst effektiv. Dieses korrelative Partikelanalysesystem für die EDS-Analyse Ihrer Partikel unterstützt ISO 16232 und VDA19.