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ZEISS Xradia 810 Ultra

Vergrößern Sie Reichweite und Wert des zerstörungsfreien Imaging im Nanomaßstab

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ZEISS Xradia 810 Ultra

Halten Sie Schritt mit dem Tempo der Wissenschaft

Erzielen Sie mit dem Röntgenmikroskop ZEISS Xradia 810 eine räumliche Auflösung bis zu 50 nm, die höchste aller laborbasierten Röntgen-Imaging-Systeme. Erleben Sie eine beispiellose Leistung und Flexibilität mit dem zerstörungsfreien 3D-Imaging, das eine wichtige Rolle in der modernen wegweisenden Forschung spielt. Die innovative Architektur von Xradia Ultra mit einer einmaligen, von der Synchrotron-Technologie hergeleiteten Röntgenoptik bietet Absorptions- und Phasenkontrast. Mit einer Energie von 5,4 keV können Sie jetzt Ihren Imaging-Durchsatz im Nanomaßstab auf das bis zu 10-Fache erhöhen. Erzielen Sie mit der niedrigeren Energie von Xradia 810 Ultra einen noch höheren Phasenkontrast und eine noch bessere Bildqualität für Proben mit mittelhohem bis niedrigem Z. Profitieren Sie von modernen In situ- und 4D-Funktionen für das Studium der strukturellen Entwicklung über die Zeit hinweg und unter variablen Bedingungen. Erweitern Sie die Grenzen Ihrer Forschung mit 3D-Imaging in den Bereichen Materialwissenschaft, Life Sciences und natürliche Ressourcen sowie in verschiedenen industriellen Anwendungsbereichen.

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Höchste Auflösung, noch stärkerer Kontrast, noch schneller

ZEISS Lösungen bieten weltweit einzigartiges zerstörungsfreies 3D-Röntgen-Imaging mit einer Auflösung von bis zu 50 nm in einem Laborinstrument. Neben dem Absorptions- und Zernike-Phasenkontrast verwendet Xradia 810 Ultra von ZEISS eine moderne, vom Synchrotron abgeleitete Optik und bietet so eine branchenweit führende Auflösung und beste Kontraste für Ihre Forschung. Dieses innovative Instrument ermöglicht eine wegweisende Forschung, indem es Ihren traditionellen Workflow um ein kritisches, zerstörungsfreies Element erweitert.

Indem Xradia 810 Ultra einen höheren Kontrast von 5,4 keV für Ihre Studien bietet, macht das System hochauflösendes Röntgen-Imaging für verschiedene schwer abzubildende Materialien zugänglich. Optimieren Sie Ihr Imaging mit Absorptions- und Phasenkontrast für verschiedene Materialien wie Polymere, Oxide, Verbundwerkstoffe, Brennstoffzellen, geologische Proben und biologische Materialien. Als Pionier im Röntgen-Imaging im Nanomaßstab in Synchrotron- und prominenten Laboreinrichtungen weltweit liefert ZEISS XRM wegweisende Lösungen, die Ihre Forschungsstudien an die Spitze bringen.

Indem Xradia 810 das Röntgen-Imaging im Nanomaßstab um eine Größenordnung schneller macht, optimiert das System das Geschäftsszenario für XRM, gleich ob Sie in der Wissenschaft oder in der Industrie tätig sind. In zentralen Mikroskopielabors schlägt sich ein schnellerer Workflow darin nieder, dass mehr Nutzer die Instrumente innerhalb kürzerer Zeit verwenden können. So kann XRM von einer größeren Zahl von Personen genutzt werden. In ähnlicher Weise können Sie 4D- und In situ -Studien interner Strukturen schnell durchführen und wiederholen und diese Techniken so für eine viel größere Zahl von Anwendungen verwenden. In gezielten Anwendungen wie zum Beispiel in der digitalen Gesteinsphysik für Öl- und Gas-Machbarkeitsstudien liefert Xradia 810 Ultra innerhalb von Stunden Messergebnisse, die für die Charakterisierung kritischer Parameter wie Porosität verwendet werden können.

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Materialwissenschaft
Optimieren Sie Studium und Design funktionaler Materialien wie Batterien, Brennstoffzellen, Katalysatoren, Verbundwerkstoffe und Baumaterialien. Erfassen Sie realistische 3D-Mikrostrukturdaten, um die Berechnungsmodelle für das Bottom-up-Design von Materialien zu verbessern. Studieren und prognostizieren Sie Materialeigenschaften und nanostrukturelle Entwicklungen. Untersuchen Sie Materialien innerhalb von Stunden anstatt innerhalb von Tagen auf Porosität, Risse und Phasenverteilung. Verwenden Sie 3D-Mapping, um Eigenschaften und Verhaltensweisen wie Porosität, Porenkonnektivität, Faserausrichtung, Rissausbreitung, Partikelgröße und ‑verteilung und Entlaminierung besser zu verstehen. Die hochauflösende, zerstörungsfreie Abbildung erleichtert kontrastreiche 4D- und In situ-Studien für Materialien mit mittlerem bis niedrigem Z.

Natürliche Ressourcen
Verwenden Sie die Röntgenmikroskopie im Nanomaßstab, um die Struktur von unkonventionellem Reservoirgestein (Karbonat, Schiefer) zu erkennen. So erhalten Sie innerhalb von Stunden Parameter für die Charakterisierung von Faktoren wie Porosität und Permeabilität in Flusssimulationen zur Optimierung der Mineralgewinnung. Erstellen Sie um bis zu 10 Mal schnellere Porenstrukturmessungen für digitale Gesteinsphysik- und spezielle Kernalanalysen und erzielen Sie signifikant schnellere Ergebnisse.

Life Sciences
Bilden Sie weiche und harte Gewebe ab wie Mikrotubuli in Dentin, Osteozytenlakunen und Kanalikuli in Knochen, Bioscaffolds für Tissue Engineering und Nanopartikel-Agglomerationen in organischen Materialien.

Elektronik
Optimieren Sie Ihren Paketentwicklungsprozess durch die Darstellung von Halbleiterproben im Nanomaßstab für die Electronic Packaging-Forschung und ‑entwicklung.

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  • Die höchste Auflösung - bis zu 50 Nanometer - aller laborbasierten 3D-Röntgen-Imaging-Systeme
  • Zerstörungsfreies 3D-Röntgen-Imaging erlaubt die wiederholte Abbildung derselben Probe und ermöglicht Ihnen die direkte Beobachtung der mikrostrukturellen Entwicklung
  • Absorptions- und Zernike-Phasenkontrast für die Abbildung verschiedenster Materialien mit mittlerem bis niedrigem Z von Karbonaten bis zu Schiefern, von Geweben bis zu Biomechanismen im Nanomaßstab – bis zu 10 Mal schneller
  • Synchrotron-artige Ergebnisse in Ihrem Labor - Wegfall des Problems für die Forscher, Zugang zu einem Synchrotron zu erhalten, und effizientere Nutzung der Synchrotronzeit
  • Höhere Wirtschaftlichkeit durch schnellere Bildaufnahmezeiten, so dass das zentrale Mikroskopielabor einer größeren Gruppe von Forschern zur Verfügung steht
  • Umschaltbares Sehfeld von 16 bis 65 µm - abgestimmt auf Ihre Imaging-Bedürfnisse
  • Aufrechterhaltung einer hohen Auflösung während der Abbildung von Proben in In situ-Geräten
  • Automatisierte Bildausrichtung für die tomografische Rekonstruktion
  • Entwickeln, erstellen und prüfen Sie ihre geplanten Synchrotron-Experimente in Ihrem eigenen Labor, um die beschränkte Synchrotron-Strahlzeit effizienter zu nutzen

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Xradia Ultra Load Stage: Optionales Zubehör

In situ Stage für nanomechanische Untersuchungen in der Röntgenmikroskopie

Untersuchen Sie dreidimensionale Veränderungen der Nanostruktur unter Belastung 

ZEISS Xradia Ultra Load Stage ermöglicht nanomechanische Versuche zu Belastungen durch Druck, Zug und Kerbschlag, in Kombination mit zerstörungsfreier 3D-Bildgebung In situ. Untersuchen Sie die Entwicklung der inneren Strukturen in 3D unter Belastung bis zu einer Auflösung von 50 nm. Verstehen Sie, wie Verformungen und Defekte mit lokalen Eigenschaften im Nanomaßstab zusammenhängen. Ergänzen Sie bestehende mechanischen Testverfahren, um Einblick in das Verhalten über mehrere Größenordnungen zu gewinnen.

Highlights

  • Erweitern Sie Ihr Xradia Ultra Nanoscale 3D Röntgenmikroskop (XRM) mit In situ Funktionalitäten zur nanomechanischen Prüfung.
  • Erstellen Sie 3D-Schnittbilder Ihrer Probe unter Belastung mit einer Auflösung von bis zu 50 nm.
  • Führen Sie eine Vielzahl von nanomechanischen Versuchen zu Druck-, Zug und Eindringverhalten durch.
  • Untersuchen Sie verschiedenste Materialien, einschließlich Metallen, Keramik, Verbundwerkstoffe, Polymere und Biomaterialien.
  • Ergänzen Sie Ihre mechanischen Testergebnisse aus Elektronenmikroskopie, microCT und eigenständigen Test-Setups, um das Verhalten über mehrere Längenskalen zu verstehen: von atomarer Ebene und Nanobereich bis hin zur Mikro- und Makroskala.
  • Zur Verfügung stehen zwei Modelle mit unterschiedlicher Kraftmessung:
    • LS108: 0.8 N Maximalkraft
    • LS190: 9 N Maximalkraft
  • Kompatibel mit:
    • ZEISS Xradia 800 Ultra
    • ZEISS Xradia 810 Ultra
    • Xradia UltraXRM-L200
    • Xradia nanoXCT-200

Funktionsweise

ZEISS Xradia Ultra Load Stage kann einfach durch den Benutzer konfiguriert werden. Sie besitzt einen piezomechanischen Antrieb mit geschlossener Positionskontrolle, einen DMS-Kraftsensor und oberen wie auch unteren Ambossen, die die unterschiedliche Kraftausübung ermöglichen. Die Probe wird zwischen zwei Ambossen angeordnet, und ein Sensor misst die Kraft auf die Probe als Funktion der Verschiebung eines Amboss.

Betriebsmodi

Druck
Beobachten Sie Deformation und Ermüdung von Materialien unter einachsiger Druckbelastung. Untersuchen Sie elastische und plastische Verformungen und stellen Sie fest, ob die Effekte uniformer oder anisotroper Natur sind oder aber mit Nanostrukturmerkmalen wie Leerräumen, Streben oder Schnittstellen korreliert sind.

Spannung
Erkennen Sie Verformung und Versagen von Materialien unter einachsiger Zugbelastung. Verstehen Sie kritische Eigenschaften wie Elastizitätsmodule und Zugfestigkeit, und wie sich diese auf spezifische Nanostrukturmerkmale der Probe auswirken.

Kerbschlagprüfung
Untersuchen Sie isolierte Verformungen und Fehler in der Umgebung der Eindringstelle. Verstehen Sie Rissbildung und deren Ausbreitung oder Delamination der Schichten und Schichtstrukturen. 

Applikationsschwerpunkte

In situ nanomechanische Untersuchungen sind für eine breite Palette von Applikationen bei technischen und natürlichen Materialien relevant.
Beispiele hierfür sind:

  • Hochfeste Legierungen
  • Biomaterialien / Biomechanik
  • Beschichtungen
  • Baumaterialien
  • Fasern / Verbundwerkstoffe
  • Schäume

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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