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ParticleSCAN VP

Das robuste REM mit SmartPI Benutzerschnittstelle

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ParticleSCAN VP

ParticleSCAN VP: Eine neue Dimension in der Prozesssteuerung

ParticleSCAN VP ist eine hochinteressante Erweiterung des ZEISS Sortiments von Rasterelektronenmikroskopen (REM). ParticleSCAN wurde für eine Reihe industrieller Anwendungen im Außeneinsatz oder in einem Produktionsumfeld entwickelt.

Die stabile Konstruktion von ParticleSCAN bietet absolute Flexibilität und Robustheit bei der automatischen Partikelanalyse. Dieses voll mobile Gerät ist ebenso schnell transportbereit wie am Zielort wieder einsatzfähig. Es ermöglicht Analysen, wann und wo immer sie benötigt werden.

In Kombination mit der Variable Pressure (VP) Technologie zur Vereinfachung der Probenvorbereitung verbessert ParticleSCAN die Fertigungsmöglichkeiten und fördert die Optimierung von Workflows.

ParticleSCAN bietet energiedispersive Röntgenspektrometrie (EDS), SmartSEM Benutzerschnittstellen-Software und SmartPI Partikelanalyse-Software. SmartPI Software erfasst, misst, klassifiziert und speichert automatisch Größe, Form und chemische Zusammensetzung von Partikeln und präsentiert die Resultate in leicht verständlichen Berichten.

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ParticleSCAN VP Anwendungen

Dauerbetrieb mit Echtzeitergebnissen, Selbstdiagnose mit automatischer Systemkalibrierung und automatisierte Software zur Minimierung manueller Interventionen prädestinieren ParticleSCAN für industrielle Anwendungen wie:

  • Reinheit im Fertigungsprozess
  • Bergbau
  • Pharmazeutische Pulver
  • Umweltpartikel

 

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ParticleScan VP (1 MB)

SmartPI (1 MB)

 

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