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REM

Rasterelektronenmikroskope

Rasterelektronenmikroskope

Rasterelektronenmikroskope für Materialforschung und Life Sciences

Rasterelektronenmikroskope (REM) von ZEISS liefern Oberflächeninformationen in hoher Auflösung und einen hervorragenden Materialkontrast. Sie werden eingesetzt in Materialanalysen, Nanotechnologie, Halbleiter-Fehleranalysen, Life Sciences und Qualitätssicherung.

GeminiSEM Produktfamilie

Sichern Sie sich Auflösung im Sub-Nanometerbereich und hohe Detektionseffizienz, selbst im druckvariablen Modus und bei niedriger Spannung. Gestochen scharfe Bilder – schnell und mit minimaler Probenschädigung.  

 

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Sigma Produktfamilie

Kombinieren Sie Feldemissions-REM (FE-REM)-Technologie mit erweiterten Analysen. Bilden Sie Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen ab. Sparen Sie Zeit mit dem halbautomatischen 4-Schritte-Workflow von Sigma.

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MultiSEM 505/506

Setzten Sie die Aufnahmegeschwindigkeit von bis zu 91 parallelen Elektronenstrahlen frei. Jetzt können Sie Bilder im Zentimetermaßstab in Nanometerauflösung aufnehmen.

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MERLIN für Biowissenschaften

Die ideale Lösung für umfassende Bildanalyse und Charakterisierung biologischer Proben. Mit dem höchsten Strahlstrom auf einen nanometergroßen Punkt bietet MERLIN das schnellste Imaging großer Sichtfelder bei FE-REM-Auflösung.

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MERLIN für Materialanalyse

MERLIN mit der GEMINI II Säule vereint ultraschnelle Analytik, hochauflösendes Imaging durch fortschrittliche Detektionsmodi und zukunftssicher flexible Konfiguration in einem einzigen System. 

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EVO für Biowissenschaften

Erfassen Sie interessante topographische Details bei niedriger Spannung mit Strahlabbremsung und hochauflösendem BSE (Rückstreuelektronen)-Imaging.  Beobachten Sie Interaktionen in biowissenschaftlichen Proben im Nanomaßstab bei unterschiedlichen Temperaturen, Drücken und Feuchtigkeitsgehalten.

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EVO für Materialanalyse

Erfassen Sie interessante topographische Details. Nutzen Sie die Vorzüge des Mikroskopbetriebs bei variablem Druck und die Aufrüstmöglichkeit auf volle Environmental-Fähigkeit, um Werkstoffe in Echtzeit zu beobachten.

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Zertifierte ZEISS Gebrauchtinstrumente

Generalüberholte Instrumente mit garantierter Leistung von außergewöhnlichem Wert - zertifizierte Systeme aus zweiter Hand. Diese Mikroskope sind generalüberholt, nach ZEISS Standards zertifiziert und mit einer gesetzlichen Gewährleistung abgedeckt. Garantierte Leistung zu einem attraktiven Preis.

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Prozessspezifische Werkzeuge

Integreren Sie vielfach wiederholte Analyse von Materialproben in die industrielle Produktion und im Forschungsumfeld.

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